Jaunā Divi-vienā 3D Optiskā Virsmas metroloģijas sistēma
23. decembris, 2014Lasīt vairākLeica Microsystems iepazīstina ar 3D virsmas metroloģijas sistēmu DCM8, apvienojot konfokālo mikroskopiju un interferometriju. Leica Microsystems piedāvā jaunas paaudzes 3D profila Leica DCM8, kas izstrādāta drošai trīs dimensiju virsmas profilēšanai. Aprīkojums ir kombinēts konfokālais un interferometriskais optikas profils, tādējādi nodrošina ar abu tehnoloģiju priekšrocībām: ...
Tag word “Optiskā virsmas metroloģija”, 1 results found
Labochema > Optiskā virsmas metroloģija