Analītiskās iekārtas

Rentgena staru difrakcijas spektrometri

Rentgena staru difrakcijas spektrometri

Apraksts

Rentgena staru difrakcijas pamatojas uz duālo rentgena staru viļņu/daļiņu būtību, lai iegūtu informāciju par  kristālisko materiālu struktūru. Primārā šīs daudzpusīgās un drošās tehnikas izmantošana ir savienojumu identificēšana un raksturošana, pamatojoties uz  to difrakcijas modeli. XRD analīzes sniedz augstus darbības rezultātus plašā diapazonā industriālo un pētījumu nozaru, itverot akadēmiskos pētījumus, ķimikālijas, farmāciju, polimērus, pusvadītājus, plānos slāņus, metālus un minerālus.

Veidi

Infrasarkano staru difrakcijas spektrometri
SAZINIETIES AR MUMS

ZInātnes un industrijas nozare

Zinātnes laboratorija
E-veikals

Informējam, ka vietnē tiek izmantotas sīkdatnes (ang. cookies). Tālāk pārlūkojot vietni vai nospiežot pogu OK, Jūs piekrītat sīkdatņu izmantošanai. Vairāk informācijas varat atrast šeit.

The cookie settings on this website are set to "allow cookies" to give you the best browsing experience possible. If you continue to use this website without changing your cookie settings or you click "Accept" below then you are consenting to this.

Close